IT2801 /IT2805 /IT2806 高精密源測量單元

IT2801 /IT2805 /IT2806  高精密源測量單元

IT2800系列是外觀緊湊、經(jīng)濟(jì)高效的臺式源測量單元，簡稱源表或SMU。它集6種設(shè)備功能于一體，綜合了四象限電壓源，電流源，6位半數(shù)字萬用表、脈沖發(fā)生器、電池模擬器以及電子負(fù)載功能，是半導(dǎo)體功率器件IV特性測試的理想選擇。全系列覆蓋了10fA到10A的電流范圍以及100nV到1000V的電壓范圍。除了直流工作模式之外，IT2800系列SMU還能夠進(jìn)行脈沖測量，以防止器件自身發(fā)熱導(dǎo)致測量結(jié)果出現(xiàn)誤差。5寸觸摸顯示屏，使源表具有出色的圖形用戶界面以及各種顯示模式，幫助工程師顯著提高測試效率。廣泛應(yīng)用于分立半導(dǎo)體器件、功率芯片、無源器件、光電器件、微功耗量測以及材料研究等領(lǐng)域。

產(chǎn)品特點

?5英寸觸摸顯示屏，提供直觀的圖形化和數(shù)字化顯示模式
?集六種設(shè)備功能于一體：電壓源、電流源、6 ?數(shù)字萬用表（DCV,DCI, ohms）、電池模擬器、電子負(fù)載及脈沖發(fā)生器
? 四象限輸出及量測功能，支持兩線制和四限制量測
? 分辨率最高可達(dá)10fA/100nV，采樣率最高可達(dá)10us

? Graph view、scope view及record view三種圖形顯示模式

? Sweep掃描模式：Linear/Log/ Pulsed Linear/ Pulsed Log及LIST
? 多達(dá)16臺設(shè)備同步功能，具備并行測試能力
? 內(nèi)建電阻、功率和Math測量功能
? 前置USB接口用于數(shù)據(jù)存儲、截屏或測試配置導(dǎo)入
? 豐富的內(nèi)置接口：Digital IO、USB、LAN

IT2801 /IT2805 /IT2806  高精密源測量單元

六合一高精密源表，降低測試成本

傳統(tǒng)的半導(dǎo)體I-V特性測量方案通常是復(fù)雜且成本昂貴的，需要多種儀器配合完成測試，如電壓/電流源，脈沖發(fā)生器，高精密電壓/電流表等。不僅占用有限的測試臺架空間，同時工程師需要編程實現(xiàn)多臺設(shè)備的控制及同步，才能確保測試結(jié)果的準(zhǔn)確度。
IT2800系列SMU為工程師提供了一種即經(jīng)濟(jì)又高效的解決方案。它集六種設(shè)備功能于一體，將不同輸出和測量能力整合到緊湊的1/2 2U尺寸中，可精確地輸出電壓或電流以及同時測量電壓和/或電流。它兼具以下儀器的功能：四象限電壓源、電流源、61/2數(shù)字萬用表、脈沖發(fā)生器、電池模擬器以及電子負(fù)載。

直觀的圖形化顯示，快速獲取產(chǎn)品特性

IT2800系列SMU的前面板有許多功能，以提高交互式使用的速度，用戶友好性和易操作性。這些功能包括5英寸彩色LCD觸摸顯示屏，USB 2.0 memory I/O端口、一個旋轉(zhuǎn)導(dǎo)航按鈕、trigger按鍵、功能按鍵以及主流的香蕉插座。USB2.0內(nèi)存端口支持輕松的數(shù)據(jù)存儲，測試配置文件導(dǎo)入以及系統(tǒng)升級。IT2800提供圖形化和數(shù)字化兩種測量結(jié)果顯示模式，直觀的graph view，scope view以及record view視圖，極大地提高了臺架測試和I-V特性分析的效率。

標(biāo)準(zhǔn)掃描和列表掃描功能

IT2800系列SMU具備標(biāo)準(zhǔn)和列表LIST掃描功能。標(biāo)準(zhǔn)SWEEP模式下，支持線性和對數(shù)模式，單次和雙次掃描功能以及恒定和脈沖掃描功能。列表LIST掃描功能可以有效地執(zhí)行任意波形輸出，在表征響應(yīng)隨應(yīng)用電壓或電流而變化的測試中非常有用，用戶可以使用excel導(dǎo)入或面板編輯的方式，生成一個任意形狀的掃描曲線，最多可以導(dǎo)入99999點數(shù)據(jù)，是U-I和I-U特性測試的理想選擇。

電池模擬器功能

得益于源表的四象限工作特性，IT2800系列產(chǎn)品不僅可作電壓源，電流源，6位半數(shù)字萬用表，還內(nèi)置了專業(yè)的電池模擬器功能，以幫助工程師更好地研究電池特性對DUT功耗及性能可靠性的影響。您可以通過自定義（SOC-VOC-R）或常規(guī)參數(shù)設(shè)定模式快速生成電池曲線，并可以任意設(shè)定電池的初始SOC狀態(tài)，而無需像使用真實電池一樣等待充電或放電，極大地提升了研發(fā)和生產(chǎn)測試效率。